发现产品失效问题的“千里眼”
电子元器件失效:因内部或外部环境因素,导致其电学特性或物理、化学性能降低至不能满足规定要求的状态。
常用的分析设备:3D显微镜、特性曲线仪、示波器、X-RAY检测仪、超声波扫描仪、电子扫描电镜等。

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